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知源书城 -纳米级系统芯片单粒子效应研究
本书资料更新时间：2025-01-20 17:56:46

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纳米级系统芯片单粒子效应研究书籍详细信息

  • ISBN：9787030673282
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  • 页数：191
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内容简介：

《纳米级系统芯片单粒子效应研究》主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。

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书籍介绍

《纳米级系统芯片单粒子效应研究》主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。

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  • 故事情节：5分

  • 人物塑造：3分

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  • 文笔流畅：5分

  • 思想传递：4分

  • 知识深度：9分

  • 知识广度：3分

  • 实用性：9分

  • 章节划分：3分

  • 结构布局：6分

  • 新颖与独特：5分

  • 情感共鸣：5分

  • 引人入胜：3分

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    品相完美

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ISBN：9787030673282
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